Представлена методика улучшения атомно-силовой микроскопии

Ученые Института передовых наук и технологий имени Бекмана представили новый способ для улучшения атомно-силовой микроскопии.

Зачастую атомно-силовая микроскопия используется для сканирования поверхностей материалов, чтобы получить изображение их высоты. При этом методика почти неспособна легко определять молекулярный состав. По этой причине специалисты разработали новое устройство, которое может добавлять в коммерческие оптические микроскопы адаптивную коррекцию оптики. Предполагается, что усовершенствование технологии позволит углубить понимание экспертов о биологии. Ко всему прочему, это поможет создавать более качественные и эффективные лекарственные препараты, а также разрабатывать новые методики лечения.

Учёные также представили разработанные ими новые линзы, которые демонстрируют, как можно легко установить устройство на объектив микроскопа.

загрузка...

Коротко

Показать все новости