Российские ученые предложили новый способ изучения образцов опухолей мозга благодаря высокоразрешающему методу масс-спектрометрии вторичных ионов.
Эксперты предлагают применять данную методику для быстрой диагностики тканей опухоли, а также в ходе проведения операций. При помощи метода масс-спектрометрии вторичных ионов исследователи изучали срезы глиобластом 57 пациентов. Подобная методика анализа поверхности является одной из самых чувствительных.
Специалисты утверждают, что полученная во время эксперимента информация может быть использована для выработки критериев клинической диагностики опухолевых заболеваний различными методами исследований.
